引起分析儀(yi)底電(dian)勢(shi)增(zeng)大的因(yin)素(su)有兩種：一(yi)種屬(shu)于永存(cun)因(yin)素(su)，它寄生(sheng)的電(dian)池(chi)上，如SO2和(he)SO3的腐(fu)蝕作用、電(dian)池(chi)不對稱因(yin)素(su)；另一(yi)種屬(shu)于暫存(cun)因(yin)素(su)，如電(dian)極(ji)各灰(hui)、空氣對流差等因(yin)素(su)，一(yi)旦條件改善，本底電(dian)勢(shi)便可降(jiang)低(di)。本底電(dian)勢(shi)的變大，往(wang)往(wang)反(fan)映(ying)檢(jian)測(ce)器(qi)的老(lao)化程度，當E0值(zhi)超過氧化鋯氧量分析儀(yi)的最大調節(jie)量時，就說明(ming)檢(jian)測(ce)器(qi)已經(jing)損壞。舉個(ge)例子：一(yi)個(ge)氧化鋯，出(chu)廠時的E0為(wei)(wei)-5mV,其允許(xu)變化范(fan)圍為(wei)(wei)0~-30mV，使用半年后，變為(wei)(wei)-13mV；使用18個(ge)月后變為(wei)(wei)：-29mV；這種情(qing)況就表明(ming)，此檢(jian)測(ce)器(qi)已經(jing)老(lao)化，需要更換。
分析儀的(de)(de)老(lao)化(hua)(hua)因素，需要(yao)特別(bie)注意，本(ben)(ben)底(di)電(dian)(dian)(dian)(dian)勢變(bian)(bian)大(da)這(zhe)個問題(ti)。在檢(jian)測時(shi)有(you)些(xie)檢(jian)測器(qi)的(de)(de)老(lao)化(hua)(hua)表現(xian)在本(ben)(ben)底(di)電(dian)(dian)(dian)(dian)勢變(bian)(bian)大(da)上(shang)，而有(you)些(xie)檢(jian)測器(qi)雖然老(lao)化(hua)(hua)，但卻沒有(you)這(zhe)種(zhong)現(xian)象(xiang)(xiang)，所以我們(men)需要(yao)認(ren)真(zhen)分析對待(dai)。當本(ben)(ben)底(di)電(dian)(dian)(dian)(dian)勢變(bian)(bian)大(da)的(de)(de)原(yuan)因是(shi)由暫(zan)存(cun)因素引起(qi)時(shi)，隨著(zhu)使用時(shi)間(jian)的(de)(de)推移，則(ze)有(you)可能出(chu)現(xian)本(ben)(ben)底(di)電(dian)(dian)(dian)(dian)勢先變(bian)(bian)大(da)，再(zai)變(bian)(bian)小的(de)(de)現(xian)象(xiang)(xiang)。由于本(ben)(ben)底(di)電(dian)(dian)(dian)(dian)勢增大(da)而導致(zhi)探頭(tou)老(lao)化(hua)(hua)的(de)(de)數量比內阻(zu)增大(da)數量要(yao)少，單純本(ben)(ben)底(di)增大(da)，一般不會出(chu)現(xian)信號跳動大(da)的(de)(de)現(xian)象(xiang)(xiang)。
