通常我們所說的氧化鋯分析儀檢測器（探頭）老化是指氧化鋯傳感器的老化，主要表現在內阻升高和本底電勢增大這兩項。
一、內阻升高實際運用中，探頭老化引起的內阻增大較多。內阻是指信號線兩端間的輸入電阻，它是引線電阻、電極與氧化鋯間界面電阻及氧化鋯體積電阻三部分之和，因此，電極揮發、電極被污染、電極脫落和氧化鋯電解質的反穩(由穩定氧化鋯變為不穩定氧化鋯)，都將引起內阻升高。測量檢測器內阻，可以判斷其老化情況。根據經驗，當內阻增大到100歐以上，將出現信號大跳動現象以及響應遲緩的現象。
對(dui)于這些檢(jian)測器，其本底電勢一般都(dou)會出現-2MV以上，同時(shi)低含量氧情況下，通常電勢信號(hao)低于理(li)論(lun)值(zhi)，而且偏差(cha)極(ji)大。
二、本底(di)(di)電(dian)(dian)勢(shi)(shi)增大(da)，本底(di)(di)電(dian)(dian)勢(shi)(shi)是電(dian)(dian)池(chi)(chi)附(fu)加(jia)電(dian)(dian)勢(shi)(shi)。引起本底(di)(di)電(dian)(dian)勢(shi)(shi)增大(da)的(de)因素有兩種(zhong)：一種(zhong)屬于永存(cun)(cun)因素，它寄生在電(dian)(dian)池(chi)(chi)上，如so2和(he)so3的(de)腐蝕作用、電(dian)(dian)池(chi)(chi)不對稱因素；另一種(zhong)屬于暫存(cun)(cun)因素，如電(dian)(dian)極積灰(hui)、空氣對流差等因素，一旦條件改善，本底(di)(di)電(dian)(dian)勢(shi)(shi)便可降低(di)。本底(di)(di)電(dian)(dian)勢(shi)(shi)的(de)變大(da)，往(wang)往(wang)反映檢測器的(de)老化程度。
三(san)、某種特定(ding)情(qing)況下，內阻變(bian)大而電勢(shi)不變(bian)，通標(biao)氣情(qing)況下電勢(shi)完(wan)全滿(man)足標(biao)氣值，此種情(qing)況的氧化鋯分析(xi)儀(yi)檢測器（探頭）只(zhi)是反(fan)應速度慢而已(yi)，對(dui)實際測量并無影響，所以，需要區(qu)別對(dui)待。
